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利用补色器测定一轴晶的光性符号

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研究了一轴晶光性符号的测定技术 ,并提出根据光程差的加减原理 ,利用补色器。

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来源
《曲阜师范大学学报：自然科学版》 |2003年第3期|53-54|共3页
作者
张霞; 李国华;
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作者单位

曲阜师范大学激光研究所;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类晶体的光学性质;
关键词
一轴晶体; 光性符号; 补色器; 消光影; 干涉色; 光程差; 加减原理; 测定方法;

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