磁粉检验标准环形试块的机理分析

摘要

为了分析控制磁粉检验系统综合性能的标准环形试块的机理,首先建立一个计算漏磁场的简化数学模型,然后解标量磁位的二维拉普拉斯方程,求出被磁化的环形试块上圆孔产生的漏磁场,计算环形试块表面的磁粉受力,分析其特点并得出相应的结论。