用暗m线法测量YIG磁光薄膜的折射率和厚度

摘要

本文采用暗ｍ线法，通过测量棱镜耦合器底面反射光斑中的模式吸收线的位置，来计算ＹＩＧ磁光薄膜的折射率和厚度。此方法特点是只需将光耦合进磁光薄膜而不考虑薄膜本身的光损耗，因此它既可测量透明薄膜的参数也可测量非透明薄膜的参数。