离心分离设备出料口堵塞对级联的影响研究

摘要

贫化^(64)Zn可有效降低核电站一回路中放射性强度。目前离心分离是制备贫化^(64)Zn的重要方法。在离心分离锌的过程中,级联易出现单机堵塞情况,进而影响级联稳定运行和产品丰度。针对实际级联运行过程出现的分离设备取料口堵塞变单股流的情况,建立不同流量、不同基本全分离系数的级联数学模型,基于推导的计算方程,模拟不同级出现不同数量机器堵塞的情况,并利用准线性化的方法进行求解。模拟算例的计算结果表明,分离设备取料口堵塞会降低级联稳定性,导致流量出现15%的波动,同时目标组分贫化丰度也由0.5004%波动至0.9315%。本研究结果有助于指导实际级联的设计与运行。