密封式继电器触点形貌与腐蚀类型关联性分析

摘要

为深入研究密封式继电器触点的失效机理,开展腐蚀形貌特征与腐蚀类型的关联性分析.选取密封式继电器触点DEAX SEM图为分析样本,在分析可能存在腐蚀反应类型的基础上,提取对应元素分布图的不规则边缘轮廓,从而将无腐蚀部分排除,同时还原了腐蚀区域形貌,量化提取其腐蚀形貌特征值并对应可能的腐蚀类型进行分析,最终利用BP神经网络算法进行关联性验证.结果表明:密封式继电器触点中Ag与Cl的原子百分比近似为1:1,在特定区域内极有可能产生AgCl化合物,并确定触点形貌与腐蚀类型存在映射关系.得到了在多种腐蚀反应共同作用下,每种反应本身的腐蚀形貌特征仍然存在的结论,并提供了一种探究腐蚀类型与腐蚀形貌特征关系的方法.