Rubrene/TPD表面及其界面的AFM和XPS研究

摘要

在indium-tin-oxide(ITO)玻璃上采用多源蒸发的方法制备了红荧烯(Rubrene)/TPD样品.由原子力显微镜(AFM)得到的表面形貌图显示Rubrene膜具有良好的均匀性.利用X射线光电子能谱仪(XPS)研究了两种材料表面和界面的电子态.由Rubrene/TPD的表面分析可知,C1s精细谱中有3个峰,最强的峰是由氧化造成的,而不是对应于芳香碳(284.55eV).空气中的O2和H2O扩散到样品里形成O1s峰.用氩离子束溅射剥蚀表面,随着时间的增长,芳香碳对应的峰越来越强,282.45和289.62eV处的峰则迅速消失,当溅射时间超过4920s时,在284.7eV处引入了一个新的峰,对应于C-N键.O1s峰迅速减弱是因为氧沾污的去除.N1s谱中的N-C键缓慢增强,到达界面附近时峰的强度变得稳定.C1s,N1s和O1s谱中都有峰发生化学位移.