首页> 中文期刊> 《电子与信息学报》 >OSGO-和OSSO-CFAR在K分布杂波背景下的性能分析

OSGO-和OSSO-CFAR在K分布杂波背景下的性能分析

         

摘要

该文证明了形状因子已知条件下OSGO-CFAR和OSSO-CFAR检测器在均匀统计独立的K分布杂波背景下具有恒虚警性能,分析了两种检测器在均匀杂波背景、杂波边缘和存在强干扰目标情况下的检测性能.并与OS-CFAR进行了比较,结果表明OSGO-CFAR在均匀杂波背景和存在强干扰目标情况下带来的附加检测损失很小,在杂波边缘具有更好的虚警控制能力.所以,OSGO-CFAR是K分布杂波背景下一种性能比较好的恒虚警检测器.

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号