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孙洪伟; 沈俊; 张国民; 黄孟才;
[1]苏州大学;
[2]苏州大学 苏州 215006;
[3]苏州 215006;
[4]苏州 215006;
多层介质; 光声; 放大技术; 亚表面; 薄膜研究; 锁相; 热学参数; 无损检测; 热学性质; 热扩散率;
机译:频率光声和光声光谱技术的结合,用于测量大分子纳米结构的光学和热学性质
机译:通过使用光频率梳的光-微波频率链路中的相位噪声测量评估的稳定性下降因素
机译:用光度法重新测量视线范围内的巴利翁声振动:PAU调查
机译:测量系统对基于相位干扰的1CH声距测量的影响及其校正通过考虑功率谱的相邻频率分量
机译:使用飞秒频率梳进行相位相干超连续谱的产生和频率参考的大气传递。
机译:使用光声传输矩阵的特征值在受限视图测量系统中可视化光声图像
机译:基于相位响应的光声测量跟踪共振频率方法
机译:多层介质板块的微分中子能量谱的测量与理论分析
机译:相位差测量方法和相位差测量系统以及频率测量方法和频率测量系统,
机译:利用光纤延迟线测量和抑制飞秒激光器重复频率相位噪声的方法
机译:多层介质中层的声散特性的测量方法
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