首页> 中文期刊> 《数据采集与处理》 >利用光声相位频率谱测量多层介质的热学性质

利用光声相位频率谱测量多层介质的热学性质

         

摘要

利用锁相放大技术检测了由于激光照射而产生的光声信号的相位频率谱,并在多层介质光声理论的基础上,测量了多层介质的热学参数,结果与公认值相符合,表明了本方法在亚表面无损检测、薄膜研究等方面的应用前景。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号