SVM在监控小批量生产中的应用及比较分析

摘要

SPC控制图（如EWMA和CUSUM控制图）常用来监控过程均值的漂移,特别是对微小漂移具有较好的敏感性,但对于复杂数据无法进行有效的智能分析和内部规律总结,不能及时报告有失控趋势的样本点.针对上述问题提出一种对监控过程漂移更加敏感、智能化的方法——基于支持向量机（SVM）的分析模式,并对该模型的精度做了相关分析.仿真结果显示：与EWMA和CUSUM控制图相比,该模型能更加及时地发现有失控趋势或失控的样本点.