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Link-OPAL系统中断口解理面取向的电子背散射衍射测定方法

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摘要

本文介绍一种利用Link-OPAL系统电子背散射衍射(EBSD)技术对多晶体材料脆性解理刻面晶体学位向测定的方法.对多晶Al67Mn8Ti25金属间化合物室温脆性解理断口的实验测定表明,其刻面取向统计结果与解理能理论计算结果相符.

著录项

来源
《电子显微学报》|1998年第6期|763-766|共4页
作者
文九巴; 戎咏华; 陈世朴; 胡赓祥; 陈家光;
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作者单位

上海交通大学高温材料及高温测试实验室,上海,200030;

上海交通大学高温材料及高温测试实验室,上海,200030;

上海交通大学高温材料及高温测试实验室,上海,200030;

上海交通大学高温材料及高温测试实验室,上海,200030;

宝钢公司钢铁研究所,上海,201900;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类断裂理论;晶体对Ｘ射线、电子和中子的衍射理论;晶体结构;
关键词
电子背散射衍射; 解理刻面; Ll2结构Al3Ti; 电子显微术;

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