LY12cz铝合金晶间腐蚀模拟试验研究

摘要

用金属间化合物θ（ＣｕＡｌ２）、Ｓ（Ａｌ２ＣｕＭｇ）、ＭｎＡｌ６与纯Ａｌ（Ｌ１）组成多电极体系，以模拟ＬＹ１２ｃｚ合金的晶界区．通过电化学测试、ＳＥＭ和能谱分析等方法研究了该合金晶间腐蚀机理．证实其晶间腐蚀是由沿晶界偏析的强化相与贫Ｃｕ区所组成的多电极体系引起的．在含Ｃｌ－离子的中性溶液中，Ｓ相是导致晶间腐蚀的主要阳极相．Ｓ相首先发生阳极溶解，随后，贫铜区、ＭｎＡｌ６相逐步随Ｓ相一起溶解．以这种方式沿晶界形成了阳极溶解通道，导致晶间腐蚀．