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Cu的束箔光谱测量

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用２．２米掠入射真空紫外单色仪和束箔技术，在原子能院ＨＩ－１３串列加速器上测量了１１０ＭｅＶ和８０ＭｅＶＣｕ的光谱。谱仪置于与束流９０°方向，光栅为６００槽／ｍｍ，入射狭缝距束流中心线为４．５ｍｍ，碳膜厚为１８μｇ／ｃｍ２，束流在８００－１２００ｎＡ...

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来源
《原子与分子物理学报》 |1998年第s1期|P.59-59|共1页
作者
曾宪堂; 杜树斌; 李景文; 江历阳; 姚淑德; 赵迎春; 王友德; 马新文; 刘惠萍;
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作者单位

中国原子能科学研究院核物理所;

北京大学技术物理系;

中国科学院近代物理研究所;

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正文语种 chi
中图分类原子光谱学;
关键词
束箔光谱; 入射狭缝; 束箔技术; 串列加速器; 真空紫外; 中国工程物理研究院; 近代物理研究所; 光谱测量; 国家自然科学基金; 中国科学院;

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