EBCMOS相机盲元检测方法的研究

摘要

电子轰击型(electronbombarded,EB)CMOS传感器工艺缺陷导致图像出现盲元,对图像质量影响较大.提出了一种基于多幅图像交叉计算的盲元检测新算法.对不同平均亮度的无目标图像,通过设置不同阈值,对图像进行二值化处理;再对多幅二值化图像按"亮点"位置进行交叉"相与"计算,生成盲元标记模板图,最后按盲元位置进行分类和取舍,得到最终盲元标记模板.最终盲元标记模板信息,为评价EBCMOS传感器品质和实际后续产品中盲元补偿提供可靠依据.