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石一磊; 苏俊宏; 杨利红; 徐均琪;
西安工业大学光电工程学院;
陕西西安710032;
相位偏移干涉法; 干涉图; 薄膜; 薄膜厚度测量;
机译:基于非线性相位分析的薄膜厚度测量使用LINNIK微观白光谱干涉仪
机译:基于相位移干涉测量方法的相位信息恢复,干扰光束之间的角度小角度
机译:白光干涉仪作为测量薄膜厚度的量表:相位法和相关图求和的实用扩展
机译:SAR干涉术:基于相位和绝对值信息的二维相位解缠技术
机译:腔内相位干涉术应用于纳米计量学的研究。
机译:新型干涉测量方法在研究脂质层厚度与泪膜变薄之间的关系中的应用
机译:SAR干涉法的电离层相位延迟误差的缓解:基于FR和方位角偏移方法的应用
机译:一种改进的薄膜厚度测量方法
机译:基于反射法和干涉法的多层薄膜厚度和表面轮廓测量方法
机译:外差干涉测量方法,外差干涉仪,厚度测量仪,厚度测量方法
机译:利用干涉信号的相位差进行厚度测量的方法,适合于通过对细微厚度和反射率的目标物体进行激光束干涉信号的测量来测量目标物体的厚度
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