基于M32C87A单片机的智能测试系统控制方法研究

摘要

M32C87A与其它单片机相比，具有速度快、功耗低、处理能力强、内置丰富外围电路的优势针对目前半导体测试存在的问题。本文旨在研究M32C87A及相关理论，研究以其为核心的测试系统以提高半导体测试的速度、效率。