ZnO压敏电阻片残压比与微观结构参数的关系

摘要

实验研究了厚度d对ZnO压敏电阻片残压比Kr的影响规律,表明残压比同样存在几何效应;实验还表明残压比Kr随电位梯度E1mA成反比例下降,随平均晶粒尺寸μ的增大而增大;找到了一个综合微观结构参数--平均晶粒尺寸μ和晶粒尺寸方差σ2的乘积(σ2μ),能较好地反映电性能与微观结构参数的关系. 提出了计算机模拟微观结构模型,并用计算机模拟了残压比Kr和厚度d、Kr和平均晶粒尺寸μ以及Kr和乘积σ2μ的关系,模拟结果与实验结果基本一致.