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基于AVR单片机的光敏电阻测试装置的设计

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介绍了一种基于AVR单片机的光敏电阻测试装置的设计方法.系统使用AVR单片机Atmega16对8路光敏电阻的亮电阻、暗电阻等参数进行数据采集,通过USB接口把数据传送到上位机.用VB编写的上位机应用程序完成数据通信、分析处理等,人机界面友好.实测表明:系统具有较高的测量精度和较强的适应性.

著录项

来源
《仪表技术与传感器》|2009年第7期|81-83|共3页
作者
黄大勇; 徐源; 乔建良;
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作者单位

南阳理工学院电子与电气工程系,河南南阳,473000;

南阳理工学院电子与电气工程系,河南南阳,473000;

南阳理工学院电子与电气工程系,河南南阳,473000;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类数据处理、数据处理系统;
关键词
光敏电阻; 单片机; 数据采集; USB; 程序设计;
入库时间 2023-07-25 10:56:10

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