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等离子体发射光谱法测定铜矿中铜及其化合物

         

摘要

最近三十多年来,电感耦合等离子发射光谱(ICP-AES)以其优良的分析特性得到迅速发展和广泛的应用.现代科学技术的进步发展的需求不断推动这种分析技术在各个领域的改进与革新.本文介绍用美国热力公司生产的IRIS Intrepid XSP发射光谱仪对铜矿中铜及其化合物来进行分析.此法操作简单,成本低,非常适合大量样品的检测.

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