基于线偏振扫描法的偏振相关损耗测试仪设计

摘要

使用线偏振扫描法来对光无源器件的偏振相关损耗进行测量,采用了基于单片机的步进电机带动偏振片旋转。重点阐述光路设计和偏振模块设计,并且搭建实验装置验证了设计的结果,偏振相关损耗的测量误差在±0.02dB。