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X射线法测量ICF靶丸参数中表面轮廓法的应用

     
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摘要

在ICF靶参数测量中,用接触X射线显微辐射照相法记录微球X射线图像,采用精密表面轮廓仪处理微球X射线图像,直接测量了单层微球壁厚.与光干涉法比较,两种方法测量结果相差小于0.3μm.

著录项

  • 来源
    《强激光与粒子束》|2000年第1期|69-71|共3页
  • 作者

    刘元琼; 罗青; 王明达;

  • 作者单位

    中国工程物理研究院核物理与化学研究所,绵阳市919-218信箱,621900;

    中国工程物理研究院核物理与化学研究所,绵阳市919-218信箱,621900;

    中国工程物理研究院核物理与化学研究所,绵阳市919-218信箱,621900;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 TL619;
  • 关键词

    X射线法; ICF靶; 表面轮廓法;

  • 入库时间 2023-07-25 09:18:25

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