采用对数比处理技术的同步光位置测量系统

林顺富; 孙葆根; 高辉; 卢平

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采用对数比处理技术的同步光位置测量系统

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对于双丝型同步光位置检测器,对数比处理技术较差比和处理技术具有更宽的线性范围和动态范围.利用美国BB公司的高精度对数运算放大器LOG112实现电流电压转换,研制了一种采用对数比处理技术的同步光位置测量系统,垂直方向光位置测量分辨率约为1 μm,线性范围大于±3 mm.与合肥同步辐射光源原有同步光位置测量系统相比,具有较高的性价比.

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来源
《强激光与粒子束》 |2006年第11期|1903-1907|共5页
作者
林顺富; 孙葆根; 高辉; 卢平;
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作者单位

中国科学技术大学,国家同步辐射实验室,合肥,230029;

中国科学技术大学,国家同步辐射实验室,合肥,230029;

中国科学技术大学,国家同步辐射实验室,合肥,230029;

中国科学技术大学,国家同步辐射实验室,合肥,230029;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类理论（粒子动力学）;光致发射、光阴极、外光电效应;
关键词
同步光位置; 双丝型光位置检测器; 差比和处理; 对数比处理; 机器研究光束线;

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