高能电子照相成像模糊模拟研究

摘要

高能电子照相是一种新兴的无损探测技术,可以在不拆解客体的情况下对客体材料及其内部结构进行定量测量.与高能质子照相相比,其分辨能力更高,可达到亚μm量级,有望成为介观现象诊断的有力工具.为研究相互作用和成像束线对成像模糊度的影响,采用Geant4模拟软件,建立12 GeV电子束从客体到像平面全过程照相模型,主要分析了成像束线引起的色差模糊、客体纵向长度引起的模糊以及次级粒子造成的模糊.研究结果表明,高能电子照相成像模糊为亚μm量级,其中成像束线引起的色差模糊为主要贡献项,次级粒子和客体纵向长度引起的模糊可以忽略.