双SIM卡控制芯片电路测试方法研究

摘要

在高速发展的信息时代，手机成为了人们工作、生活中不可或缺的一部分，而如今的双卡双模手机更是符合时代的需求，人们可以通过双SIM卡实现奉地一号，外地一号，生活一号，工作一号等诸多便捷，并且节省了大量的金钱一个产品是否合格，是合町以实现功能，是否能够投入大规模的生产中去，都是由测试阶段来保证的。电路测试的主要目的是保证器件能完全实现设计规格书所规定的功能及性能指标，并且最大可能的降低量产测试成本。如何设计合理的测试方法和测试方案，更好地对双SIM卡控制电路的测试，是本文所亟待解决的问题。本文，笔者研究了双SIM卡控制芯片MT6302的功能结构，设计了相应的测试电路和测试程序，并通过了最终的测试验证。