Dotmapping方法在超微量残留物检测中的应用

摘要

cqvip:在法庭科学、刑事技术领域中,除了对特定的样品进行分析外,还经常遇到某一特殊物质是否存在的检验.如对射击残留物的检验,对剪切工具刃口部位特定物质的检验,对各种擦蹭部位特定物质的检验等.而后者检验的难度相对较大.特别对超微量残留物检测,必须在高放大倍率下进行检验.然而在高放大倍率下,分析视野相对较小,而且视野内大量灰尘、杂质颗粒对检验有很大干扰,如果将所有视野内的所有颗粒均进行元素分析,以确认当中是否有特定物质的残留颗粒,其工作量是十分巨大的甚至是不可能完成的.新型能谱仪的元素面分布图分析技术可以完成此项检验工作,但得到一幅元素面分布图至少需要几十分钟的时间,对于有近千个分析视野的检验来说,工作效率显然是很低的.