JT—60U长脉冲,高βN放电中磁岛宽度的测量

摘要

通过用一个外差辐射计测量电子回旋发射的振荡，估算了长脉冲、高βＮ放电期间的磁岛宽度。由于外差计的高空间分辨率约为２ｃｍ，所以能详细地测量磁岛结构的演变。磁岛宽度随着起伏的幅度而增大。当ｍ／ｎ＝３／２模出现时，饱和的磁岛宽率约为７ｃｍ。限制可持续的βＮ的电阻模的模数一般为ｍ／ｎ＝３／２和２／１。本文讨论了预测到的磁岛与新经典撕裂模之间的关系。