反射式液晶黑点缺陷分析与改善

摘要

采用超景深显微镜、扫描电镜、能谱仪等手段对存在黑点缺陷的反射式液晶进行分析。结果表明:黑点为偏光片反射膜Al层被腐蚀的坑洞,并存在I元素残留,且I元素含量越高,腐蚀程度越严重。通过双85老化试验能快速复现故障,分析为PVA膜吸附的I发生高温升华,并渗透穿过TAV膜,与反射膜Al层接触,在H2O催化作用下发生氧化还原反应生成AlI3,导致反射膜Al层腐蚀;增大碘溶液浓度及染色时间,并提高PVA膜拉伸倍率,以增强I元素在PVA膜上的吸附能力,可有效提高液晶的质量可靠性。