基于微控制器的便携式共面电容无损检测系统

摘要

设计了基于电容成像原理的便携式无损检测系统,以STM32F446微控制器为核心,具有操作简便的可交互主机和可更换的电容探头,可实现对反映缺陷信息的微小电容信号的实时精确测量.系统软件以相互独立的功能程序为基础,并由实时操作系统调度.系统用户界面友好,支持测量信号的实时处理,可以以云图和峰值图的形式显示缺陷的位置和尺寸信息,并具有历史数据存储和调出功能.测试结果表明,系统可对非导电材料缺陷进行快速无损检测,兼具教学实验价值和现场适应性.