扫描探针显微镜外接扩展Ⅰ/Ⅴ装置的设计与实践

摘要

近些年来,各种功能材料纳米区域的伏安特性得到越来越多的关注,并已有大量相关研究成果发布.这些科研的实验工作大多由扫描探针显微镜来完成,然而商用仪器的技术指标固定,提供的直流电压和电流的测量范围有限.通过对日本精工SPA-400扫描探针显微镜的Ⅰ/Ⅴ装置进行基于单片机系统的扩展二次开发,结合自行开发的软件包,大大提高了原系统的Ⅰ/Ⅴ测量范围,可适合多种晶体样本的测量.该设计避免了重新投入造成的成本浪费,值得推广采用.