基于径向基函数的刀路跟随

摘要

影响3C产品外壳高光亮倒角边工艺良率的最主要因素是高亮边是否均匀,由于外壳的刚性低,经过夹具夹紧后不可避免地出现微小的形变,从而导致倒角边不均匀产生废品.针对这种由于形变引起的不均问题,采用探针测量工件轮廓上若干点得到变形量,通过支持向量机建立径向基函数预测模型,修正刀路上的每个点,实现刀路对形变的跟随,效果显著.