首页> 中文期刊> 《装备制造技术》 >湿度对液桥中毛细力和能量耗散的影响

湿度对液桥中毛细力和能量耗散的影响

         

摘要

原子力显微镜(AFM)在扫描图像过程中会产生赝像的重要因素是:在探针和基底表面接触过程中,两者之间会生成一种带有黏附力的结构,称之为液桥.在大气环境下,不同的湿度条件能够影响液桥的形成和断裂,而液桥的存在会使得原子力显微镜在扫描成像过程中,悬臂梁自由端的受力和能量产生变化,最终干扰扫描成像的质量.研究不同湿度对于针尖和基底之间的毛细力Fmax、能量耗散η的影响,选择最佳的成像条件,可以提高AFM工作的准确性和可靠性.

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号