首页> 中文期刊>中国环境监测 >颗粒物CEMS的取样问题和基本分析技术

颗粒物CEMS的取样问题和基本分析技术

     

摘要

介绍了在实际应用中的颗粒物CEMS的取样问题和基本分析技术,着重强调了颗粒物分层对取样点位的影响以及在基于光学技术的颗粒物CEMS运行中,保持颗粒物特性和尺寸分布相对稳定的重要性.

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号