GIS/GIL设备中金属微粒污染研究综述

摘要

如何减小高压电气设备中金属微粒对GIS/GIL的污染是提高绝缘强度的关键技术难题之一。对金属微粒产生危害的方式、影响因素及金属微粒抑制措施进行了综述。指出金属微粒的来源广泛、类型多样且微粒的产生不可避免,自由微粒在设备内的复杂运动加剧了其危害的不可控性,微粒危害大小主要因素有微粒尺寸、气压与电压形式等。介绍了表面附膜、微粒陷阱等微粒抑制措施,指出如何合理改进微粒抑制措施,获取更加高效的微粒无害化方法是亟待解决的问题,为今后进一步研究金属微粒提供了参考。