低压成套开关设备防护等级为IP65时温升试验问题分析

摘要

低压成套开关设备在满足防护等级IP65前提下对其进行温升试验,针对试验过程中存在主开关断路器脱扣以及某些温升测量部位温升值超过允许值的现象,结合三次温升试验测试数据结果进行原因分析,提出适当增加排气孔或者利用排气扇进行排气散热,选用开关性能良好以及额定电流比温升试验电流高一个等级,适当提高导线、铜排截面积尺寸等改进措施,来避免问题的再次出现.