磁性测厚仪的测量系统分析

摘要

根据测量系统分析方法,在镀层厚度为7.6~15.2μm的条件下对某磁性测厚仪的测量系统能力进行评估,并考察了基体粗糙度、校准方法和结果统计方法对测量系统能力的影响。结果表明,基体粗糙度(Ra)小于1.6μm,采用两点校准(含零点),并以ASTM B499-09标准规定的舍点法进行统计时,测量系统能力较高,但仍不满足精确性公差比(P/T)小于30%的要求。