基于ATE和LASAR软件的电子设备（板级）自动测试技术研究

摘要

随着大规模集成电路、多层印制板的出现，传统的基于自动测试设备（ATE）的测试方法已难以满足电子设备（板级）自动测试故障诊断的需要，本文在ATE基础上全面融合LASAR仿真软件对电子设备（板级）自动测试技术进行了系统研究，并引用此技术在实际维修应用中产生的的测试数据和图表进行了阐述，具有广泛的应用价值。