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逻辑分析仪的高速数据测试

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@@ 高性能数字总线设计的发展要求将高档逻辑分析仪的同步数据采集速度发挥至其极限.为了在此极端速度下准确的捕捉状态数据,今天的数字设计师必须理解由高性能总线设计提出的一些复杂课题.

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来源
《电子测试》|2002年第4期|93-95|共3页
作者
高宗仁;
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作者单位

无;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类电气测量技术及仪器;
关键词
逻辑分析仪; 高速数据测试; 总线;
入库时间 2023-07-24 18:44:27

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