基于ATE的RFID测试方法浅析

摘要

随着物联网的高速发展,作为其核心技术的RFID得到了越来越广泛地的应用,RFID芯片的测试需求也是越来越多。本文从RFID芯片的特点以及测试难点入手,着重对RFID芯片调谐电容测试和RF功能测试在ATE上的测试解决方案进行分析。该方案易实现、成本低,是目前RFID芯片量产测试的通用测试解决方案。