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射线追踪在电离层探测中的应用

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摘要

通过对电离层探测数据的处理,得到电离层的水平不均匀性模型.对这种水平不均匀电离层模型进行射线追踪,应用变步长射线追踪方法对赤道双峰模型进行射线追踪.电离层射线追踪的路径反映了电子密度和折射率的水平不均匀性,对电离层的斜向探测具有重要的价值.

著录项

来源
《电子科技》 |2011年第1期|12-15|共4页
作者
郭万振; 云广平;
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作者单位

西安电子科技大学理学院,陕西,西安,710071;

西安电子科技大学理学院,陕西,西安,710071;

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正文语种 chi
中图分类数据处理、数据处理系统;
关键词
电离层模型; 射线追踪; 水平不均匀性;

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