基于微光纤探头及光学成像技术的位移测试系统的研究与设计

摘要

阐述了复杂结构产品径向与周向位移测量的重要性,介绍了传统位移测量的局限与不足之处,提出了一种基于微光纤探头及光学成像技术的位移测试系统.从测试系统的结构组成、工作原理、标定系统、位移计算、图像数字化处理、界面设计等几个方面进行了详细的分析、设计和计算,并论述了该测试系统的创新点和技术进步之处,在同类行业中具有一定的借鉴价值.