首页> 中文期刊> 《电测与仪表 》 >一种不受CT饱和影响的非同步故障测距新方法

一种不受CT饱和影响的非同步故障测距新方法

             

摘要

双端量法故障测距中通常会采用双端电压和电流数据,其中电流量容易受CT饱和影响而影响测距的准确性.为了消除该影响,文章提出一种不需要采用电流量计算的故障测距新方法.新方法仅需用电压量计算,在原理上不受CT饱和影响.采用序分量法构造了关于故障距离的方程,在原理上消去了非同步角,不需要双端数据同步.仿真计算表明提出的新方法具有较高的测距精度,不易受非同步角和过渡电阻的影响,具有良好的工程应用价值.

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号