IEC火花试验装置检验容性电路的新途径

摘要

目前,利用"IEC本安电路火花试验装置",对时间常数较大的电容性电路试验,在多数情况下都采用拔钨丝根数来实现.经过近十多年的实际运行表明,这种简单的替代可能降低了试验电容性电路的灵敏度.本文通过对阻容性电路的充放电时间及IEC火花试验装置打火间隔的理论分析和计算,找出了灵敏度低的原因,并探讨了在不影响IEC火花试验装置性能指标的前提下,试验电容性电路的新途径.