首页> 中文期刊> 《电子设计技术》 >调试设计:芯片设计中必不可少之举

调试设计:芯片设计中必不可少之举

         

摘要

成功实现SoC的关键因素之一是为做出首颗芯片要做好片上准备工作。这一观点虽未广泛地讨论过,但仍是一个不争的事实。

著录项

  • 来源
    《电子设计技术》 |2007年第9期|52+54+56+58-52+54+56+58|共1页
  • 作者

    Ron Wilson;

  • 作者单位

    EDN 责任编辑;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 设计;
  • 关键词

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号