利用新型合成仪器解决系统级测试难题

摘要

＜正＞当今世界电子元件及产品正在加速发展,在大多数商业应用中,从设计到生产的周期现已缩短为只有六个月。而且,设备的内容及拓朴结构已经从单一功能元件迁移到多功能元件,进而还会迁移到整个子系统和系统中,在迁移时通常采用单个组件方案的形式（例如,用于智能电话和iPhone之类的设备）。现