基于STM32的频率特性测试仪的设计

摘要

本文提出了一种实用性频率特性测试仪的设计方案。该设计通过分析扫频信号输出性能指标,对相应的信号源和电流型反馈运算放大电路进行结合,使用继电器控制Π型阻抗匹配网络,从而实现了输入和输出衰减网络。为了增加测试功能,采用两片AD8302芯片的方法测量相位差和相位极性。采取STM32处理器作为中央处理器,使整体结构更为简单,解决了国内低频频率特性测试仪功能简单、体积较大、价格昂贵等问题。