Mg-PSZ陶瓷热处理与四方析体马氏体相变温度关系的研究

摘要

采用带有液氮负温裝置的LK-02型高速淬火膨胀仪对已获得工业应用的、含10mol％MgO的Mg-PSZ陶瓷的热处理条件与其中t-ZrO_2的马氏体相变温度(M_4、M_6)及可相变t-ZrO_7析体量的关系进行了研究,认为:t-ZrO_2析体的粒径及其热处理过程中的应力应变状态是决定或影响马氏体相变温度高低和在应力诱导下可相变t-ZrO_2量的两个基本因素;采取1420℃和1100℃的综合热处理,与在1420℃或1100℃进行单一温度热处理相比,易于控制M、和M_4值,且能保证较高的可相变t-ZrO_7析体量,是优化Mg-PSZ结构和性能的一种值得进一步进行研究的热处理工艺。经1100℃、4b热处理的Mg-PSZ试样的“Δl-T”曲线的低温端未观察到明显的表征马氏体相变的膨胀效应。