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电寻址空间光调制器“黑栅”效应的消除方法

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摘要

提出了两种消除电寻址空间光调制器由于低开口率所引起的“黑栅”效应的方法 :利用衍射微透镜阵列的方法和利用纯相位型光束整形器件阵列的方法分析了这两种方法的基本原理 ,给出了微透镜阵列和光束整形器件阵列的设计思想 ,并比较了这两种方法的异同点采用杨一顾相位恢复算法得到了光束整形结果理论分析及仿真计算表明

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来源
《光子学报》 |2002年第11期|1421-1424|共4页
作者
颜树华; 戴一帆; 吕海宝; 李圣怡;
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作者单位

国防科技大学机电工程与自动化学院;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类调制技术与调制器;信息光学;
关键词
电寻址; 空间光调制器; “黑栅”效应; 微透镜阵列; 光束整形器件; 二元光学; 光学信息处理;

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