整体叶轮在机测量路径规划中的NX二次开发应用

摘要

在机测量可以避免二次装夹、安装基准变化等因素造成的测量误差,提高测量的准确度。本文基于VS2010和NX8.0平台,对整体叶轮在机测量路径规划模块进行了二次开发。该模块可以根据侧铣加工生成的刀轴轨迹进行直接测量,自动提取其中若干刀轴位置的若干点信息,形成测量轨迹,并输出测量轨迹文件,使误差在方向上具有一致性。若测轴跟相邻的叶片发生干涉,可以计算不发生干涉的角度,通过调整测量角度,避免测量干涉。