基于非制冷红外焦平面探测器的工业测温系统

摘要

传统的非接触性测温系统主要采用红外CCD，其工作波长大多为0．4-1．1μm，受到截止波长的影响，红外CCD在工业中低温测量误差过大。非制冷焦平面红外热像仪（uncooled IRFPA camera）的工作波长一般在8-14μm之间，常温环境下测温可精确到0．01℃。UL01011型非制冷微测辐射热计是非制冷焦平面热像仪中最常使用的核心光电探测器，以此作为实验用光电探测器件，构建了非接触性工业测温系统，从实验结果可以看出，该方法在实际应用中获得了较好的效果。