光折变多重存储的栅自增强读出特性研究

摘要

研究了光折变重存储读出时折射率栅自增强特性与记录晶体厚度、记录时的光强比以及写入的折射率栅振幅之间的关系．结果表明记录晶体的厚度大于某一值，才有自增强效应；较小的参物光强比具有较大的自增强效果，能获得较大的读出衍射效率；自增强读出所能达到的最大衍射效率与写入的栅振幅大小无关。