凹印铜金粉表面理化特性的研究

摘要

利用显微光谱、X荧光光谱、光电子能谱、色泽分析和场发射电子扫描显微分析,对凹印用铜金粉的表面理化性能进行了研究,结果表明,国产铜金粉的表面锌含量明显偏低,Cu(1)与Cu(0)的比例与进口铜金粉之间也存在差异;从而导致其反射光谱、表面理化性质方面与进口铜金粉存在显著差别,宏观上表现为国产和进口铜金粉的色泽存在差异,揭示了国产铜金粉与进口铜金粉品质差距的主要原因。